Normal view
MARC view
Электрические характеристики МДП-структур на основе МЛЭ n-Hg1–xCdxTe (x = 0,29–0,31) с резкими неоднородностями по составу (Record no. 1133474)
[ view plain ]
000 -Маркер записи | |
---|---|
Контрольное поле постоянной длины | 03543nab a2200373 c 4500 |
001 - Контрольный номер | |
Контрольное поле | koha001133474 |
005 - Дата корректировки | |
Контрольное поле | 20240607173423.0 |
007 - Кодируемые данные (физ. описан.) | |
Контрольное поле постоянной длины | cr | |
008 - Кодируемые данные | |
Контрольное поле постоянной длины | 240416|2011 ru s c rus d |
035 ## - Системный контрольный номер | |
Системный контрольный номер | koha001133474 |
040 ## - Источник каталогиз. | |
Служба первич. каталог. | RU-ToGU |
Код языка каталог. | rus |
Служба, преобразующая запись | RU-ToGU |
245 10 - Заглавие | |
Заглавие | Электрические характеристики МДП-структур на основе МЛЭ n-Hg1–xCdxTe (x = 0,29–0,31) с резкими неоднородностями по составу |
Ответственность | А. В. Войцеховский, С. Н. Несмелов, С. М. Дзядух [и др.] |
336 ## - Тип содержимого | |
Тип содержимого | Текст |
337 ## - Средство доступа | |
Средство доступа | электронный |
504 ## - Библиография | |
Библиография | Библиогр.: 14 назв. |
520 3# - Аннотация | |
Аннотация | Исследовано влияние областей с периодическими резкими неоднородностями по составу толщиной 48–54 нм на электрофизические характеристики МДП-структур на основе варизонного n-Hg1–xCdxTe с x = 0,29–0,31, выращенного методом молекулярно-лучевой эпитаксии. Установлено, что основные электрофизические и фотоэлектрические характеристики качественно сходны для МДП-структур на основе n-Hg1–xCdxTe с резкими неоднородностями по составу («барьеры») и без «барьеров». Показано, что наибольшее влияние на электрические характеристики оказывают «барьерные области», расположенные непосредственно вблизи границы раздела диэлектрик – полупроводник. Это влияние заключается в увеличении эффективной толщины диэлектрика, что может быть вызвано тем, что области повышенного состава образуют потенциальные барьеры для электронов, а также в уменьшении времени релаксации неравновесных носителей из-за рекомбинации на границах областей с резким изменением состава. |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | МДП-структуры |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | теллурид кадмия-ртути |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | варизонные слои |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | барьерные области |
655 #4 - Термин индексирования — жанр/форма | |
Жанр/форма | статьи в журналах |
9 (RLIN) | 957939 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Войцеховский, Александр Васильевич |
9 (RLIN) | 64789 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Несмелов, Сергей Николаевич |
9 (RLIN) | 65140 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Дзядух, Станислав Михайлович |
9 (RLIN) | 80402 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Варавин, Василий Семенович |
9 (RLIN) | 90984 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Дворецкий, Сергей Алексеевич |
9 (RLIN) | 90983 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Михайлов, Николай Николаевич |
Титул (звание) | физик |
9 (RLIN) | 90964 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Сидоров, Юрий Георгиевич |
9 (RLIN) | 149876 |
773 0# - Источник информации | |
Название источника | Известия высших учебных заведений. Физика |
Место и дата издания | 2011 |
Прочая информация | Т. 54, № 3. С. 3-9 |
ISSN | 0021-3411 |
Контрольный № источника | 0026-80960 |
852 4# - Местонахождение единицы хранения | |
Код организации-хранителя | RU-ToGU |
856 4# - Электронный адрес документа | |
URL | <a href="http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001133474">http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001133474</a> |
908 ## - Параметр входа данных | |
Параметр входа данных | статья |
999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
biblionumber (Koha) | 1133474 |
No items available.