Normal view
MARC view
Взаимодействие примесей Zn и Ni с технологическими примесями в кремнии (Record no. 1004106)
[ view plain ]
000 -Маркер записи | |
---|---|
Контрольное поле постоянной длины | 02623nab a2200361 c 4500 |
001 - Контрольный номер | |
Контрольное поле | koha001004106 |
005 - Дата корректировки | |
Контрольное поле | 20230809155445.0 |
007 - Кодируемые данные (физ. описан.) | |
Контрольное поле постоянной длины | cr | |
008 - Кодируемые данные | |
Контрольное поле постоянной длины | 230629|2023 ru s c rus d |
024 7# - Прочие стандартные номера | |
Стандартный номер | 10.17223/00213411/66/5/7 |
Источник номера | doi |
035 ## - Системный контрольный номер | |
Системный контрольный номер | koha001004106 |
040 ## - Источник каталогиз. | |
Служба первич. каталог. | RU-ToGU |
Код языка каталог. | rus |
Служба, преобразующая запись | RU-ToGU |
100 1# - Автор | |
Автор | Есбергенов, Дарьябай Муратбаевич |
9 (RLIN) | 815104 |
245 10 - Заглавие | |
Заглавие | Взаимодействие примесей Zn и Ni с технологическими примесями в кремнии |
Ответственность | Д. М. Есбергенов |
246 11 - Заглавие тома/части | |
Заглавие тома/части | Interaction of Zn and Ni impurities with technological impurities in silicon |
336 ## - Тип содержимого | |
Тип содержимого | Текст |
337 ## - Средство доступа | |
Средство доступа | электронный |
504 ## - Библиография | |
Библиография | Библиогр.: 20 назв. |
506 ## - Ограничения на доступ к материалу | |
Ограничения доступа | Ограниченный доступ |
520 3# - Аннотация | |
Аннотация | Приведены результаты исследований взаимодействия атомов примесей цинка и никеля в кремнии, легированных последовательно, в различных комбинациях c помощью метода рентгеновской дифракции и ИК-фурье-спектрометрии. Степень кристалличности решетки кремния, легированного примесями Zn, Ni, зависит от технологии введения данных примесей. Было обнаружено, что после введения атомов Zn в Si, предварительно легированный Ni (Si<Ni, Zn>), вместе с уменьшением концентрации атомов оптически-активного кислорода улучшается прозрачность кристалла, в то время как в образцах при обратной комбинации легирования (Si<Zn, Ni>) наблюдается обратный эффект. |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | кремний |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | цинк |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | никель |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | диффузия |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | рентгеновские спектры |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | рентгеновская дифракция |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | ИК-спектроскопия |
655 #4 - Термин индексирования — жанр/форма | |
Жанр/форма | статьи в журналах |
9 (RLIN) | 890040 |
773 0# - Источник информации | |
Название источника | Известия высших учебных заведений. Физика |
Место и дата издания | 2023 |
Прочая информация | Т. 66, № 5. С. 53-59 |
ISSN | 0021-3411 |
Контрольный № источника | 0026-80960 |
852 4# - Местонахождение единицы хранения | |
Код организации-хранителя | RU-ToGU |
856 4# - Электронный адрес документа | |
URL | <a href="http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001004106">http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001004106</a> |
908 ## - Параметр входа данных | |
Параметр входа данных | статья |
999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
biblionumber (Koha) | 1004106 |
No items available.