Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Испытания материалов (Record no. 100155)

000 -Маркер записи
Контрольное поле постоянной длины 02661nam a2200517 c 4500
001 - Контрольный номер
Контрольное поле vtls000475394
005 - Дата корректировки
Контрольное поле 20210921211308.0
008 - Кодируемые данные
Контрольное поле постоянной длины 140417s2013 ru a b 000 0 rus d
020 ## - Индекс ISBN
ISBN 9785941782130
035 ## - Системный контрольный номер
Системный контрольный номер to000475394
040 ## - Источник каталогиз.
Служба первич. каталог. RU-ToGU
Код языка каталог. rus
Служба, преобразующая запись RU-ToGU
080 ## - Индекс УДК
Индекс УДК 620.17(075.8)
100 1# - Автор
Автор Быков, Сергей Юрьевич
9 (RLIN) 190787
245 10 - Заглавие
Заглавие Испытания материалов
Продолж. заглавия [учебное пособие для студентов вузов, обучающихся по направлению подготовки "Конструкторско-технологическое обеспечение машиностроительных производств"]
Ответственность С. Ю. Быков, С. А. Схиртладзе
260 ## - Выходные данные
Место издания Старый Оскол
Издательство ТНТ
Дата издания 2013
300 ## - Физическое описание
Объем 135 с.
Иллюстрации/тип воспроизводства ил.
504 ## - Библиография
Библиография Библиогр.: с. 135
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова учебные издания для вузов
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова испытания материалов
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова статические нагрузки
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова циклические нагрузки
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова динамические нагрузки
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова повреждения материалов
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова усталость материалов
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова ударные нагрузки.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова твердость материалов
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова упруго-динамические методы
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова пластико-динамические методы
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова технологические испытания, методы
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова структура материалов, методы
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова оптическая микроскопия.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова электронная микроскопия.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова акустические испытания
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова Дефектоскопия ультразвуковая.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова ультразвуковой контроль.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова электрические методы контроля
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова магнитные методы контроля
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова зондовые методы.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова индукционные методы
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова термоэлектрические методы
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Схиртладзе, Сергей Александрович
9 (RLIN) 190788
852 4# - Местонахождение единицы хранения
Код организации-хранителя RU-ToGU
Полочный индекс 62
Авторский знак Б953
Код страны ru
908 ## - Параметр входа данных
Параметр входа данных учебник
999 ## - Системные контрольные номера (Koha)
biblionumber (Koha) 100155
Holdings
Не выдается Отсутствует на месте Поврежден Исходное место хранения Местоположение Дата поступления Цена Всего выдач Расстановочный шифр Штрих-код Класс экземпляра
      Научная библиотека ТГУ Читальный зал 5 03/04/2021 297.00   62 Б953 13820000867210 Выдается по месту хранения