Диагностика включений в кристаллах ZnGeP2 методом терагерцовой спектроскопии / А. И. Грибенюков, К. В. Дорожкин, М. М. Зиновьев [и др.] // Известия высших учебных заведений. Физика. 2019. Т. 62, № 6. С. 80-87. URL: http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000723527
